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第一章 单元测试

1、多选题:

硬件描述语言主要有哪些?( )
选项:
A:Verilog
B:VHDL
C:AHDL
D:SystemVerilog
答案: 【Verilog;
VHDL;
AHDL;
SystemVerilog】

第二章 单元测试

1、单选题:
下列不属于Verilog HDL算数运算符的是( )
选项:
A:=
B:-
C:+
D:%
答案: 【=】

2、单选题:
在verilog语言中,a=4b’1011,那么&a=( )
选项:
A:1b’0
B:1b’1
C:4b’1011
D:4b’1111
答案: 【1b’0】

3、单选题:
5’b10011>>2等于( )
选项:
A:7’b0010011
B:5’b11100
C:7’b0011100
D:5’b00100
答案: 【5’b00100】

4、单选题:
{4{a}}等于( )
选项:
A:{a}
B:{a,a,a,a}
C:{a;a;a;a}
D:{a:a:a:a}
答案: 【{a,a,a,a}】

5、单选题:
下列关于阻塞赋值运算(如b=a;)说法错误的是( )
选项:
A:在“always”模块中的reg型信号都采用此赋值方式
B:b的值在赋值语句执行完后立刻就改变的
C:赋值语句执行完后,块才结束
D:在沿触发的always块中使用时,综合后可能会产生意想不到的结果
答案: 【在“always”模块中的reg型信号都采用此赋值方式】

第三章 单元测试

1、判断题:
假设design为TOP.v,顶层模块名为TOP;TestBench为TOP_TB.v,顶层模块名为TOP_TB,则完整写出Modelsim仿真该设计所用命令为vlib mywork( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【错】

2、多选题:
常见的数字仿真器有( )
选项:
A:Iverilog
B:Modelsim
C:VCS
D:IUS
答案: 【Iverilog;
Modelsim;
VCS;
IUS】

3、判断题:
Modelsim中,为禁用其优化,可以在命令行上添加-novopt选项。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【对】

4、判断题:
vsim仿真时,是从物理库开始查找模块。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【错】

5、判断题:
目前modelsim可以在包含中文的路径中正常执行。( )
选项:
A:对
B:错
答案: 【错】

第四章 单元测试

1、单选题:
EPF10K20TC144-4具有( )个管脚
选项:
A:15
B:84
C:不确定
D:144
答案: 【144】

2、判断题:
FPGA结构一般分为三部分:可编程逻辑块(CLB)、可编程I/O模块和可编程内部连线。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【对】

3、判断题:
FPGA基于SRAM结构,每次上电后需要一次配置。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【对】

4、单选题:
大规模可编程器件主要有FPGA、CPLD两类,其中CPLD通过( )实现其逻辑功能。
选项:
A:输入缓冲
B:输出缓冲
C:查找表(LUT)
D:可编程乘积项逻辑
答案: 【查找表(LUT)】

5、单选题:
CPLD的可编程是主要基于什么结构( )。
选项:
A:ROM可编程
B:与或阵列可编程
C:PAL可编程
D:查找表(LUT)
答案: 【与或阵列可编程】

第五章 单元测试

1、单选题:
IP核在EDA技术和开发中具有十分重要的地位;提供用VHDL等硬件描述语言描述的功能块,但不涉及实现该功能块的具体电路的IP核为( )
选项:
A:软IP
B:固IP
C:硬IP
D:其余都对
答案: 【软IP】

2、单选题:
综合是EDA设计流程的关键步骤,在下面对综合的描述中,( )是错误的。
选项:
A:为实现系统的速度、面积、性能的要求,需要对综合加以约束,称为综合约束。
B:综合就是把抽象设计层次中的一种表示转化成另一种表示的过程。
C:综合可理解为,将软件描述与给定的硬件结构用电路网表文件表示的映射过程,并且这种映射关系是唯一的(即综合结果是唯一的)。
D:综合就是将电路的高级语言转化成低级的,可与FPGA / CPLD的基本结构相映射的网表文件。
答案: 【综合可理解为,将软件描述与给定的硬件结构用电路网表文件表示的映射过程,并且这种映射关系是唯一的(即综合结果是唯一的)。】

3、单选题:
基于EDA软件的FPGA/CPLD设计流程为:原理图/HDL文本输入→( )→综合→适配→时序仿真→编程下载→硬件测试。
选项:
A:逻辑综合
B:功能仿真
C:配置
D:时序仿真
答案: 【功能仿真】

4、单选题:
()是EDA设计流程的关键步骤。
选项:
A:设计输入
B:综合
C:适配
D:测试
答案: 【综合】

5、单选题:
在EDA中,IP的中文含义是( )
选项:
A:在系统编程
B:知识产权核
C:没有特定意义
D:网络供应商
答案: 【知识产权核】

第六章 单元测试

1、多选题:
仿真中,下述clk信号值变化,将触发上升沿事件的有:( )。
选项:
A:0Z
B:XZ
C:Z1
D:01
答案: 【0Z;
Z1;
01】

2、判断题:
由nand门可构建出所有数字逻辑。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【对】

3、判断题:
Latch是边沿敏感,DFF是电平敏感。( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【错】

4、判断题:
always@()语法中,敏感列表不完整,可能导致仿真与综合结果不一致。 ( )
选项:
A:对
B:错
答案: 【对】

5、判断题:
DFF是Verilog语言的内建原语,可以直接例化使用。 ( )
选项:
A:错
B:对
答案: 【错】

第七章 单元测试

1、单选题:
关于TestBench的描述,错误的是( )
选项:
A:TestBench可以不含验证待测电路输出信号正确性的功能
B:TestBench使用硬件描述语言进行编写,可被综合成硬件电路
C:TestBench功能包括为待测电路的输入产生激励
D:TestBench既可以用来验证电路的功能,也可以用来验证电路的时序
答案: 【TestBench使用硬件描述语言进行编写,可被综合成硬件电路】

2、单选题:
关于系统任务的说法,错误的是( )
选项:
A:$display可用来输出信号的即时数值
B:$write用

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